Giessener Elektronische Bibliothek

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In situ Charakterisierung von Präzisionsoptiken mittels Deflektometrie und adaptiver Bildverarbeitung

In situ characterisation of precision optics with deflectometry and adaptive image processing

Schiffner, Sebastian Frederik


Zum Volltext im pdf-Format: Dokument 1.pdf (11.117 KB)


Bitte beziehen Sie sich beim Zitieren dieses Dokumentes immer auf folgende
URN: urn:nbn:de:hebis:26-opus-88993
URL: http://geb.uni-giessen.de/geb/volltexte/2012/8899/

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Freie Schlagwörter (Deutsch): Optik , Deflektometrie , Messtechnik , Bilderkennung , Präzisionsmaschinen
Freie Schlagwörter (Englisch): optic , deflectometry , measurement , imagerecognition , precision
PACS - Klassifikation: 89.20.Bb
Universität Justus-Liebig-Universität Gießen
Institut: I. Physikalisches Institut
Fachgebiet: Physik
DDC-Sachgruppe: Physik
Dokumentart: Dissertation
Sprache: Deutsch
Tag der mündlichen Prüfung: 15.06.2012
Erstellungsjahr: 2012
Publikationsdatum: 27.07.2012
Kurzfassung auf Deutsch: Die fortschreitende branchenübergreifende Miniaturisierung heutiger Fertigungsprozesse erfordert immer bessere Präzisionsoptiken. Um diesen Bedürfnissen gerecht zu werden, wurde eine Maschine entwickelt, die Toleranzen kleiner als ein Mikrometer beim Zentrierprozess von Optiken erreichen kann. Mit der ursprünglichen Technik konnten diese Toleranzen jedoch für viele Linsentypen nicht erreicht werden.
Dieses Problem konnte mit Hilfe der Deflektometrie und einer adaptiven Bildverarbeitung gelöst werden. Während dieser Arbeit entstand ein Programm, das den Fertigungsprozess im Industriealltag der Maschine schneller, exakter und für ein breiteres Spektrum an Linsen anwendbar machte. Im Mittel werden Toleranzen von 0,6 µm innerhalb von 44 s erreicht bei über 85% der Linsen eines namhaften Mikroskopherstellers.
Kurzfassung auf Englisch: The cross-industrial miniaturization of today´s manufacturing processes requires continuous improvements in precision optics. In order to fulfill these demands, a machine was developed, which is able to achieve manufacturing tolerances smaller than a micron. The original alignment technique failed to achieve such tolerances for many lens types.
This problem could be solved with deflectometry and adaptive, digital image processing. Within the scope of this work, a software was developed, which made the manufacturing process on the machine faster, more accurate and usable for a broader spectrum of lenses. On the average tolerances of 0,6 µm were reached within 44 s with over 85% of the lenses of a well-known microscope manufacturer.
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