Giessener Elektronische Bibliothek

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Surface oxygen exchange between yttria-stabilised zirconia and a low-temperature oxygen rf-plasma

Rohnke, Marcus ; Janek, Jürgen ; Kilner, John A. ; Chater, Richard J.


Originalveröffentlichung: (2004) Zuerst erschienen in: Solid State Ionics 166 (2004) 1/2, 89-102
Zum Volltext im pdf-Format: Dokument 1.pdf (698 KB)


Bitte beziehen Sie sich beim Zitieren dieses Dokumentes immer auf folgende
URN: urn:nbn:de:hebis:26-opus-23833
URL: http://geb.uni-giessen.de/geb/volltexte/2005/2383/

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Freie Schlagwörter (Englisch): Low temperature plasma , Oxygen surface exchange , SIMS , Yttria Stabilised Zirconia(YSZ) , Surface kinetics
Universität Justus-Liebig-Universität Gießen
Institut: Physikalisch-Chemisches Institut
Fachgebiet: Chemie
DDC-Sachgruppe: Chemie
Dokumentart: Aufsatz
Sprache: Englisch
Erstellungsjahr: 2004
Publikationsdatum: 14.09.2005
Kurzfassung auf Englisch: Isotope Exchange/Depth Profiling (IEDP) using Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) has been used to determine the oxygen tracer diffusion and surface exchange coefficients of (100) oriented 9.5 mol% yttria stabilised zirconia single crystals. Exchange experiments performed with molecular oxygen are compared with the exchange using an oxygen plasma. The surface exchange coefficient for specimens in a plasma is up to 100 times higher compared to measurements with normal molecular oxygen. For the exchange experiments we used an inductively coupled radio frequency (rf) oxygen plasma with a maximum radio frequency power of 250 W. Double probe measurements and optical emission spectrometry are used for the characterisation of the plasma. The measured electron temperatures are within the range of 5–12 eV.
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